;;; 半导体分立器件是电子信息装备及IKW75N60T固态电子系统的心脏，器件的可靠性在很大程度上决定了装备及系统的可靠性。为了提高半导体分立器件的可靠性水平，必须在器件功能设计的同时，针对产品在规定条件下和规定期间内可能出现的失效模式，采取相应的设计技术，以消除或控制其失效模式，使产品在全寿命周期内满足规定的可靠性要求。
;;; 在进行半导体分立器件可靠性设计时，除了按本书第1章提出的可靠性设计基本要求（包括：基本原则、设计依据、人员素质要求、信息收集与应用、失效物理分析工作等）、可靠性设计程序进行外，还要根据半导体分立器件的特点来提出和考虑其相应的要求。因此，建议在阅读本章之前，请先阅读第1章的通用要求、共性技术，特别是可靠性以及可靠性设计的基本概念、影响电子元器件可靠性的因素分析等内容。